电子与封装2006，Vol.6Issue(5)：33-36,39,5.
可靠性试验粒子碰撞噪声检测技术研究
IC Failtests Technical Study of Particle Impact Noise Detection Testing
杜迎 1张国华 1朱卫良 1蔡荭1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏,无锡,214035
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摘要
关键词
密封/加速度/粒子碰撞噪声检测分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
杜迎,张国华,朱卫良,蔡荭..可靠性试验粒子碰撞噪声检测技术研究[J].电子与封装,2006,6(5):33-36,39,5.
