|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|电子与封装|高性能集成电路在片ESD保护设计与评价

高性能集成电路在片ESD保护设计与评价

于宗光

电子与封装2002，Vol.2Issue(3)：34-44,11.
✕
电子与封装2002，Vol.2Issue(3)：34-44,11.

高性能集成电路在片ESD保护设计与评价

于宗光1

作者信息

  • 折叠

摘要

关键词

静电泄漏/集成电路/ESD/HDM/MM/CDM

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

于宗光..高性能集成电路在片ESD保护设计与评价[J].电子与封装,2002,2(3):34-44,11.

电子与封装

1681-1070

访问量1
|
下载量0
段落导航相关论文