|国家科技期刊平台

首页|期刊导航|电子与封装|对功率器件击穿电压的模拟优化

对功率器件击穿电压的模拟优化

赵普社王因生傅义珠

电子与封装2007，Vol.7Issue(10)：40-43,4.

✕

电子与封装2007，Vol.7Issue(10)：40-43,4.

对功率器件击穿电压的模拟优化

Simulation of the Breakdown Voltage of Power Devices

赵普社 ¹王因生 ¹傅义珠¹

作者信息

1. 南京电子器件研究所,南京,210016
折叠

摘要

关键词

硅功率器件/击穿电压/扩散保护环/耗尽区腐蚀

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

赵普社,王因生,傅义珠..对功率器件击穿电压的模拟优化[J].电子与封装,2007,7(10):40-43,4.

电子与封装

ISSN：1681-1070

访问量3

|

下载量0

段落导航

相关论文

摘要
关键词
分类
引用文本