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从1类瓷介电容器美国军用标准看有无可靠性指标要求的两种标准的区别

张昌仁 王勇

电子元件与材料2000,Vol.19Issue(2):42-44,3.
电子元件与材料2000,Vol.19Issue(2):42-44,3.

从1类瓷介电容器美国军用标准看有无可靠性指标要求的两种标准的区别

The Difference Between Established Reliability Specification and Non-established Reliability Specification in MIL for Class I Ceramic Capacitors

张昌仁 1王勇1

作者信息

  • 1. 国营第715厂,四川,成都,610058
  • 折叠

摘要

关键词

1类瓷介电容器/美国军用标准/可靠性指标

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张昌仁,王勇..从1类瓷介电容器美国军用标准看有无可靠性指标要求的两种标准的区别[J].电子元件与材料,2000,19(2):42-44,3.

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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