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漏率公式与判据和内部气体含量的分析研究(二)

王庚林 王莉研 董立军

电子与封装2007,Vol.7Issue(10):44-46,3.
电子与封装2007,Vol.7Issue(10):44-46,3.

漏率公式与判据和内部气体含量的分析研究(二)

Analysis and Research on Leak Rate Equations, Failure Criteria and Internal Gas Concentration (2)

王庚林 1王莉研 1董立军1

作者信息

  • 1. 北京市科通电子继电器总厂,北京,100054
  • 折叠

摘要

关键词

密封性/氦质谱检漏/漏率公式/漏率判据/氦气交换时间常数/内部水汽含量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王庚林,王莉研,董立军..漏率公式与判据和内部气体含量的分析研究(二)[J].电子与封装,2007,7(10):44-46,3.

电子与封装

1681-1070

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