|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|电子元件与材料|半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法

半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法

师小琳 段哲民 师义民

电子元件与材料2004，Vol.23Issue(7)：48-50,3.
✕
电子元件与材料2004，Vol.23Issue(7)：48-50,3.

半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法

Empirical Bayes Method of Reliability Evaluation for Semiconductor Parallel System

师小琳 1段哲民 1师义民2

作者信息

  • 1. 西北工业大学电子工程系,陕西,西安,710072
  • 2. 西北工业大学应用数学系,陕西,西安,710072
  • 折叠

摘要

关键词

半导体器件并联系统/可靠性评估/经验Bayes方法

分类

数理科学

引用本文复制引用

师小琳,段哲民,师义民..半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法[J].电子元件与材料,2004,23(7):48-50,3.

基金项目

陕西省教育厅自然科学基金资助项目(03Jk065) （03Jk065）

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

访问量1
|
下载量0
段落导航相关论文