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电阻率成像技术研究与应用

秦建增 杨磊 贺为民 陈学林

CT理论与应用研究2008,Vol.17Issue(3):50-56,7.
CT理论与应用研究2008,Vol.17Issue(3):50-56,7.

电阻率成像技术研究与应用

Research and Application of Resistivity Tomography Technology

秦建增 1杨磊 2贺为民 1陈学林3

作者信息

  • 1. 中国地震局地球物理勘探中心,郑州,450002
  • 2. 华北水利水电学院,郑州,450011
  • 3. 河南省地质环境监测院,郑卅,450002
  • 折叠

摘要

关键词

高密度电阻率法/层析成像/勘察/采空区

分类

天文与地球科学

引用本文复制引用

秦建增,杨磊,贺为民,陈学林..电阻率成像技术研究与应用[J].CT理论与应用研究,2008,17(3):50-56,7.

CT理论与应用研究

OACSTPCD

1004-4140

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