| 注册
首页|期刊导航|电子元件与材料|BST薄膜的残余应力分析

BST薄膜的残余应力分析

尹开锯 杨传仁 冷文建 廖家轩 符春林 张继华 陈宏伟 姬洪

电子元件与材料2005,Vol.24Issue(11):59-61,3.
电子元件与材料2005,Vol.24Issue(11):59-61,3.

BST薄膜的残余应力分析

Residual Stress Analysis of BST Thin Films

尹开锯 1杨传仁 1冷文建 1廖家轩 1符春林 1张继华 1陈宏伟 1姬洪1

作者信息

  • 1. 电子科技大学微电子与固体电子学院,四川,成都,610054
  • 折叠

摘要

关键词

无机非金属材料/钛酸锶钡薄膜/晶化/残余应力

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

尹开锯,杨传仁,冷文建,廖家轩,符春林,张继华,陈宏伟,姬洪..BST薄膜的残余应力分析[J].电子元件与材料,2005,24(11):59-61,3.

基金项目

国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(Z01) (973计划)

电子元件与材料

OA北大核心CSCD

1001-2028

访问量2
|
下载量0
段落导航相关论文