电子元件与材料2010，Vol.29Issue(11)：72-74,3.
多层陶瓷电容器的失效分析
Failure analysis of multi-layer ceramic capacitor
刘燕芳 1郭海波 1潘启智 1王治平1
作者信息
- 1. 中达电子(江苏)有限公司物性失效分析实验室,江苏,苏州,215200
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摘要
关键词
多层陶瓷电容器/失效分析/裂纹/金相分析分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
刘燕芳,郭海波,潘启智,王治平..多层陶瓷电容器的失效分析[J].电子元件与材料,2010,29(11):72-74,3.
