X射线衍射强度公式的修正OA
The Modified of the X-Ray Diffraction Intensity Formula
X射线衍射技术在物相分析、点阵参数测量以及微应力的测定等方面被广泛应用,为了更精确地确定物理参数,X射线衍射强度的精确计算是十分重要的.目前单晶X射线衍射的强度公式的理论计算结果与实验数据有较大偏差.对衍射强度公式进行合理修正,使计算结果得到较大改善,并与实验测量的数据符合得更好.
The X-ray diffraction technology has been widely applied in phase identification,the determination of lattice parameters and the testing of the microstress.In order to precisely determine the physical parameters,the calculation of the X-ray diffraction intensity is very important.At present,comparedg with the experimental data,the theoretical results of the X-ray diffraction intensity formula have a large deviation.In this paper,the X-ray diffraction intensi…查看全部>>
巴诺;高海欣;刘晓静;吴向尧;张玉梅;张斯淇;王婧;郭义庆
吉林师范大学物理学院,吉林四平136000吉林师范大学物理学院,吉林四平136000吉林师范大学物理学院,吉林四平136000吉林师范大学物理学院,吉林四平136000吉林师范大学物理学院,吉林四平136000吉林师范大学物理学院,吉林四平136000吉林师范大学物理学院,吉林四平136000中国科学院高能物理所,北京100049
物理学
X射线衍射晶体结构修正
the X-ray diffractioncrystal structurerevise
《吉首大学学报：自然科学版》 2012 (1)
41-45,5
吉林省教育厅科学研究资助项目（2006016）
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