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结构分析技术在行波管可靠性评估中的应用

张爱林 董宇亮 张磊 张洪伟

电子元件与材料2012,Vol.31Issue(8):66-68,71,4.
电子元件与材料2012,Vol.31Issue(8):66-68,71,4.

结构分析技术在行波管可靠性评估中的应用

Application of construction analysis in traveling-wave tube reliability evaluation

张爱林 1董宇亮 1张磊 2张洪伟2

作者信息

  • 1. 电子科技大学物理电子学院,四川成都610054
  • 2. 中国空间技术研究院,北京100029
  • 折叠

摘要

关键词

结构分析/可靠性/行波管

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张爱林,董宇亮,张磊,张洪伟..结构分析技术在行波管可靠性评估中的应用[J].电子元件与材料,2012,31(8):66-68,71,4.

基金项目

中央高校基本科研业务费专项基金资助项目(No.ZYGX2009J041) (No.ZYGX2009J041)

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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