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银层致密性对叠层片式电感器应力的影响

樊应县高永毅马健欧爱良

电子元件与材料2014，Vol.33Issue(3)：66-68,3.

电子元件与材料2014，Vol.33Issue(3)：66-68,3.DOI:10.3969/j.issn.1001-2028.2014.03.016

Effect of silver layer compactness on multilayer chip inductors stress

樊应县 ¹高永毅 ¹马健 ¹欧爱良¹

作者信息

叠层片式电感器/端电极/银层致密性/焊接性/墓碑/应力

multilayer chip inductor/ terminal electrode/ silver layer compactness/ weldability/ tombstone/ stress

信息技术与安全科学

樊应县,高永毅,马健,欧爱良..银层致密性对叠层片式电感器应力的影响[J].电子元件与材料,2014,33(3):66-68,3.

深圳市科技创新资助项目(No.JSA201105110386A) （No.JSA201105110386A）

OACSCDCSTPCD

ISSN：1001-2028

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