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SnBiEr/Cu界面反应及时效过程中IMC的研究

胡小武 余啸 李玉龙 黄强 闵志先

电子元件与材料2014,Vol.33Issue(4):25-29,5.
电子元件与材料2014,Vol.33Issue(4):25-29,5.DOI:10.3969/j.issn.1001-2028.2014.04.007

SnBiEr/Cu界面反应及时效过程中IMC的研究

Research on IMC of SnBiEr/Cu in interfacial reaction and the aging

胡小武 1余啸 1李玉龙 1黄强 1闵志先2

作者信息

  • 1. 南昌大学机电工程学院,江西南昌330031
  • 2. 中国电子科技集团公司第38研究所,安徽合肥220088
  • 折叠

摘要

关键词

SnBiEr无铅钎料/钎焊/界面反应/时效/IMC/偏聚

Key words

SnBiEr lead-free solder/ soldering/ interfacial reaction/ aging/ IMC/ segregation

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

胡小武,余啸,李玉龙,黄强,闵志先..SnBiEr/Cu界面反应及时效过程中IMC的研究[J].电子元件与材料,2014,33(4):25-29,5.

基金项目

江西省青年科学基金资助项目(No.20122BAB216023) (No.20122BAB216023)

江西省铜钨新材料重点实验室开放基金资助项目(No.2012-KLP-4) (No.2012-KLP-4)

电子元件与材料

OACSCDCSTPCD

1001-2028

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