电子元件与材料2016，Vol.35Issue(2)：73-78,6.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2016.02.018
直流条件下高反压大功率开关晶体管可靠性研究
Reliability study of high-breakdown voltage high-power switch transistors under DC condition
摘要
关键词
大功率/晶体管/集电极峰值电流/饱和压降/击穿电压/二次击穿Key words
high power/transistor/peak collector current/saturation voltage drop/breakdown voltage/secondary breakdown分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
周涛,陆晓东,吴元庆,夏婷婷..直流条件下高反压大功率开关晶体管可靠性研究[J].电子元件与材料,2016,35(2):73-78,6.基金项目
国家自然科学基金项目资助(No.11304020) （No.11304020）
