基于模拟退火算法优化波长的面粉品质检测OA北大核心CSCDCSTPCD
Near-Infrared Spectroscopic Detection of Wheat Flour Quality Using Wavelength Optimization Based on Simulated Annealing Algorithm (SAA)
模拟退火算法(simulated annealing algorithm,SAA)是一种随机搜索、全局优化算法,为提高近红外光谱检测面粉品质模型的准确度与稳健性,实验提出基于SAA优化波长,再结合偏最小二乘(partial least squares,PLS)法建模预测的定量模型,并对SAA中冷却进度表参数设置进行对比分析.实验依据面粉中灰分含量梯度,随机选取126份样本的近红外光谱建立SAA-PLS模型.结果发现,SAA从2 074个波数优选出…查看全部>>
窦颖;孙晓荣;刘翠玲;肖爽
北京工商大学计算机与信息工程学院,食品安全大数据技术北京市重点实验室,北京 100048北京工商大学计算机与信息工程学院,食品安全大数据技术北京市重点实验室,北京 100048北京工商大学计算机与信息工程学院,食品安全大数据技术北京市重点实验室,北京 100048北京工商大学计算机与信息工程学院,食品安全大数据技术北京市重点实验室,北京 100048
模拟退火算法偏最小二乘法面粉近红外光谱定量分析
simulated annealing algorithmpartial least squares methodflournear-infrared spectroscopyquantitative analysis
《食品科学》 2016 (12)
208-211,4
北京市教委科研计划重点项目(KZ201310011012)北京市教委科技创新平台建设项目(PXM_2012_014213_000023)北京市自然科学基金项目(4142012)北京市优秀人才资助项目(2012D005003000007)
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