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功率MOSFET器件栅电荷测试与分析

张文涛 皓月兰

电子与封装2016，Vol.16Issue(6)：21-23,3.
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电子与封装2016，Vol.16Issue(6)：21-23,3.

功率MOSFET器件栅电荷测试与分析

Test and Analysis of Gate Charge in MOSFET

张文涛 1皓月兰1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第47研究所,沈阳110032
  • 折叠

摘要

关键词

场效应晶体管/栅电荷/测试/可靠性

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张文涛,皓月兰..功率MOSFET器件栅电荷测试与分析[J].电子与封装,2016,16(6):21-23,3.

电子与封装

1681-1070

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