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元器件二次筛选过程中的质量控制

王小萍

电子与封装2016,Vol.16Issue(6):39-42,4.
电子与封装2016,Vol.16Issue(6):39-42,4.

元器件二次筛选过程中的质量控制

Electronic Components Quality Control During Secondary Screening Process

王小萍1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第55研究所,南京210016
  • 折叠

摘要

关键词

二次筛选/静电防护/测试/电老化

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王小萍..元器件二次筛选过程中的质量控制[J].电子与封装,2016,16(6):39-42,4.

电子与封装

1681-1070

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