电子与封装2016，Vol.16Issue(11)：14-17,26,5.
基于ATE的电源芯片Multi-Site测试设计与实现
A Design and Implementation Scheme of Multi-Site Test for ATE-based Power Chip
唐彩彬1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035
- 折叠
摘要
关键词
CTA8280/CP测试/Multi-Site/测试效率分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
唐彩彬..基于ATE的电源芯片Multi-Site测试设计与实现[J].电子与封装,2016,16(11):14-17,26,5.
