电子与封装2017，Vol.17Issue(1)：19-23,5.
基于Virtex4FPGA的全覆盖二倍线内建自测试
A Full-Coverage Double-line BIST Method for Vertex 4 FPGA
摘要
关键词
XDL/内建自测试/测试向量/全局布线/二倍线分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
董宜平,谢文虎,李光..基于Virtex4FPGA的全覆盖二倍线内建自测试[J].电子与封装,2017,17(1):19-23,5.基金项目
江苏省自然基金青年基金(BK20160202) （BK20160202）
