电子与封装2017，Vol.17Issue(6)：10-15,6.
大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用
Development of Test Program for Large Scale Integrated Circuits
章慧彬 1朱江1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035
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摘要
关键词
集成电路测试程序/ATE/参数测试/功能测试分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
章慧彬,朱江..大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用[J].电子与封装,2017,17(6):10-15,6.
