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功率模块铜线键合技术及其可靠性研究

陈云 王立 吕家力 朱婷

电子与封装2017,Vol.17Issue(9):1-4,4.
电子与封装2017,Vol.17Issue(9):1-4,4.

功率模块铜线键合技术及其可靠性研究

The Cooper Wire Bonding Technology with High Reliability

陈云 1王立 1吕家力 1朱婷1

作者信息

  • 1. 扬州国扬电子有限公司,江苏扬州225100
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摘要

关键词

铝线键合/铜线键合/可靠性

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈云,王立,吕家力,朱婷..功率模块铜线键合技术及其可靠性研究[J].电子与封装,2017,17(9):1-4,4.

电子与封装

1681-1070

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