电子与封装2017，Vol.17Issue(9)：10-14,5.
基于J750EX测试系统的大容量NOR型FLASH测试方法
The Investigation of Testing Method for the High-Capacity FLASH of NOR Type Based on the J750EX Measuring System
季伟伟 1倪晓东 1张凯虹 1杜元勋1
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- 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
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摘要
关键词
NOR型 FLASH/DSIO/J750EX分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
季伟伟,倪晓东,张凯虹,杜元勋..基于J750EX测试系统的大容量NOR型FLASH测试方法[J].电子与封装,2017,17(9):10-14,5.
