高压IGBT芯片高温测试温度的阈值电压标定OA
Vgth Method During High Temperature Test of High-Voltage IGBT Chip
IGBT(Insulate Gate Bipolar Transistor,绝缘栅双极晶体管)已得到广泛应用.为提高封装阶段的成品率,需对芯片的高温漏电特性进行测试.通过对芯片测试参数的分析,提出了可通过对Vgth(阈值电压)的测试、比对,实现对芯片在高温测试条件下实际测试温度的校正.
涂启志;凌浪波
无锡广播电视大学,江苏无锡214011株洲中车时代电气有限公司,湖南株洲412000
信息技术与安全科学
IGBT阈值电压高温漏电流
《电子与封装》 2017 (10)
13-16,4
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