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基于ATE的SRAM测试

奚留华

电子与封装2017，Vol.17Issue(11)：10-14,5.
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电子与封装2017，Vol.17Issue(11)：10-14,5.

基于ATE的SRAM测试

SRAM Testing Based on ATE

奚留华1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
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摘要

关键词

ATE/SRAM/测试/功能/交流参数

分类

信息技术与安全科学

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奚留华..基于ATE的SRAM测试[J].电子与封装,2017,17(11):10-14,5.

电子与封装

1681-1070

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