电子与封装2017，Vol.17Issue(12)：18-22,5.
运放电路在测试系统中的应用
Application of Operational Amplifier Circuit in Test System
王金萍 1吴熙文1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡 214072
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摘要
关键词
硬件测试/运算放大器/电压跟随器/电压比较器分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王金萍,吴熙文..运放电路在测试系统中的应用[J].电子与封装,2017,17(12):18-22,5.
