|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|电子与封装|测试成本的挑战及对策

测试成本的挑战及对策

章慧彬

电子与封装2018，Vol.18Issue(5)：5-7,11,4.
✕
电子与封装2018，Vol.18Issue(5)：5-7,11,4.

测试成本的挑战及对策

Challenge and Countermeasure of Test Cost

章慧彬1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
  • 折叠

摘要

关键词

测试成本/自动化测试设备/可测性设计/内建自测试

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

章慧彬..测试成本的挑战及对策[J].电子与封装,2018,18(5):5-7,11,4.

电子与封装

1681-1070

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文