电子与封装Issue(z1)：50-52,63,4.
肖特基二极管在HTRB试验中的电损伤分析
Electrical Damage Analysis of Schottky Diode in HTRB
陆定红 1张运坤 1来启发1
作者信息
- 1. 贵州航天计量测试技术研究所,贵阳 550009
- 折叠
摘要
关键词
肖特基二极管/HTRB/失效分析分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陆定红,张运坤,来启发..肖特基二极管在HTRB试验中的电损伤分析[J].电子与封装,2018,(z1):50-52,63,4.
