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基于EMMI技术的GaAs多功能芯片的失效分析

周舟林罡于永洲郭啸贾洁

电子与封装2018，Vol.18Issue(11)：40-43,4.

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电子与封装2018，Vol.18Issue(11)：40-43,4.

基于EMMI技术的GaAs多功能芯片的失效分析

Failure Analysis of GaAs MFC Based on EMMI

周舟 ¹林罡 ¹于永洲 ¹郭啸 ¹贾洁¹

作者信息

1. 南京电子器件研究所,南京210016
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摘要

关键词

GaAs/多功能MMIC/红外微光显微镜/失效分析

分类

信息技术与安全科学

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周舟,林罡,于永洲,郭啸,贾洁..基于EMMI技术的GaAs多功能芯片的失效分析[J].电子与封装,2018,18(11):40-43,4.

电子与封装

ISSN：1681-1070

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