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3D堆叠封装硅通孔结构的电-热-结构耦合分析

于思佳 陈善圣 苏德淇 沈志鹏 张元祥

电子元件与材料2019,Vol.38Issue(4):42-47,6.
电子元件与材料2019,Vol.38Issue(4):42-47,6.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2019.04.007

3D堆叠封装硅通孔结构的电-热-结构耦合分析

Electric-thermo-structural coupling analysis of through silicon via in 3 D stacked packaging structure

于思佳 1陈善圣 1苏德淇 1沈志鹏 1张元祥1

作者信息

  • 1. 衢州学院 机械工程学院, 浙江 衢州 324300
  • 折叠

摘要

关键词

硅通孔/电-热-结构耦合分析/有限元法/电流密度/热应力

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

于思佳,陈善圣,苏德淇,沈志鹏,张元祥..3D堆叠封装硅通孔结构的电-热-结构耦合分析[J].电子元件与材料,2019,38(4):42-47,6.

基金项目

国家自然科学基金 (51605252, 51875523) (51605252, 51875523)

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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