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提高钽电容器储存稳定性的机理分析及试验研究

田东斌 潘齐凤 张选红 彭永燃

电子元件与材料2019,Vol.38Issue(4):94-100,7.
电子元件与材料2019,Vol.38Issue(4):94-100,7.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2019.04.015

提高钽电容器储存稳定性的机理分析及试验研究

Mechanism analysis and experiment study on improving storage stability of tantalum capacitors

田东斌 1潘齐凤 2张选红 1彭永燃2

作者信息

  • 1. 中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司, 贵州贵阳 550018
  • 2. 贵州振华电子信息产业技术研究有限公司,贵州贵阳 550018
  • 折叠

摘要

关键词

钽电容器/吸潮/防潮封装/耐存储性/稳定性

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

田东斌,潘齐凤,张选红,彭永燃..提高钽电容器储存稳定性的机理分析及试验研究[J].电子元件与材料,2019,38(4):94-100,7.

基金项目

贵州省工业和信息化发展专项资金计划第一批技术创新项目(2017022) (2017022)

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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