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电子封装无铅互连焊点的电迁移研究进展

姜楠 张亮 熊明月 赵猛 何鹏

电子元件与材料2019,Vol.38Issue(8):1-8,8.
电子元件与材料2019,Vol.38Issue(8):1-8,8.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2019.08.001

电子封装无铅互连焊点的电迁移研究进展

Progress on electromigration of lead-free interconnected solder joints in electronic packaging

姜楠 1张亮 1熊明月 2赵猛 1何鹏1

作者信息

  • 1. 江苏师范大学机电工程学院,江苏徐州 221116
  • 2. 哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室,黑龙江哈尔滨 150001
  • 折叠

摘要

关键词

互连焊点/电迁移/综述/界面组织/电流密度

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

姜楠,张亮,熊明月,赵猛,何鹏..电子封装无铅互连焊点的电迁移研究进展[J].电子元件与材料,2019,38(8):1-8,8.

基金项目

国家自然科学基金(51475220) (51475220)

中国博士后科学基金(2016M591464) (2016M591464)

江苏省 "六大人才高峰"(XCL-022) (XCL-022)

江苏省 "青蓝工程" 中青年学术带头人计划 ()

先进焊接与连接国家重点实验室开放课题重点项目(AWJ-19Z04) (AWJ-19Z04)

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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