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微型化器件中多晶Cu晶向排布对其受压力学特性的影响仿真研究

支越 方来旺 王之哲 罗宏伟 王小强

电子元件与材料2019,Vol.38Issue(8):82-86,5.
电子元件与材料2019,Vol.38Issue(8):82-86,5.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2019.08.014

微型化器件中多晶Cu晶向排布对其受压力学特性的影响仿真研究

Simulation on influence of crystal orientation arrangement of polycrystalline Cu on its compressive mechanical properties in miniaturized devices

支越 1方来旺 1王之哲 1罗宏伟 1王小强1

作者信息

  • 1. 工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州 510610
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摘要

关键词

多晶Cu/晶向排布/受压力学特性/塑性变形/纳米压痕

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

支越,方来旺,王之哲,罗宏伟,王小强..微型化器件中多晶Cu晶向排布对其受压力学特性的影响仿真研究[J].电子元件与材料,2019,38(8):82-86,5.

基金项目

国家自然科学基金(61804032) (61804032)

广州市科技计划(201904010457) (201904010457)

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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