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有限元数值模拟在BGA/QFP/CCGA器件焊点可靠性研究中的应用

夏卓杰 张亮 熊明月 赵猛

电子与封装2020,Vol.20Issue(2):1-7,7.
电子与封装2020,Vol.20Issue(2):1-7,7.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0201

有限元数值模拟在BGA/QFP/CCGA器件焊点可靠性研究中的应用

Application of Finite Element Numerical Simulation in the Reliability Study of Lead-Free Solder Joints in BGA/QFP/CCGA Devices

夏卓杰 1张亮 2熊明月 3赵猛2

作者信息

  • 1. 江苏师范大学江苏圣理工学院,江苏徐州221116
  • 2. 江苏师范大学机电工程学院,江苏徐州221116
  • 3. 哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室,哈尔滨150001
  • 折叠

摘要

关键词

有限元/IC封装/无铅焊点/可靠性

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

夏卓杰,张亮,熊明月,赵猛..有限元数值模拟在BGA/QFP/CCGA器件焊点可靠性研究中的应用[J].电子与封装,2020,20(2):1-7,7.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(51475220) (51475220)

江苏省“六大人才高峰”资助项目(XCL-022) (XCL-022)

先进焊接与连接国家重点实验室开放课题重点项目(AWJ-19204) (AWJ-19204)

电子与封装

1681-1070

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