电子与封装2020，Vol.20Issue(2)：29-31,3.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0206
基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试
Asynchronous Signal Test of System on Chip Based on Auto-Test Equipment
石君 1张谦 1裴丹丹1
作者信息
- 1. 成都嘉纳海威科技有限公司,成都610093
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摘要
关键词
自动测试系统/异步信号/系统级芯片/搜索匹配分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
石君,张谦,裴丹丹..基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试[J].电子与封装,2020,20(2):29-31,3.
