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叠层芯片结构QFN封装导电胶分层失效行为分析

黄涛 廖秋慧 吴文云 罗成

电子元件与材料2020,Vol.39Issue(9):97-104,8.
电子元件与材料2020,Vol.39Issue(9):97-104,8.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2020.0004

叠层芯片结构QFN封装导电胶分层失效行为分析

Analysis of delamination failure behavior of QFN packaging conductive adhesive with laminated chip structure

黄涛 1廖秋慧 1吴文云 1罗成1

作者信息

  • 1. 上海工程技术大学 材料工程学院, 上海 201620
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摘要

关键词

ANSYS/导电胶/分层/剥离应力/厚度

分类

化学化工

引用本文复制引用

黄涛,廖秋慧,吴文云,罗成..叠层芯片结构QFN封装导电胶分层失效行为分析[J].电子元件与材料,2020,39(9):97-104,8.

基金项目

上海工程技术大学校企合作项目 (0235-E4-6000-17-0132) (0235-E4-6000-17-0132)

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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