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破坏性键合拉力试验的测量系统分析

廖小平

电子与封装2020,Vol.20Issue(9):1-5,5.
电子与封装2020,Vol.20Issue(9):1-5,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0902

破坏性键合拉力试验的测量系统分析

Measurement System Analysis of Destructive Wire Bonding Pull Test

廖小平1

作者信息

  • 1. 无锡中微高科电子有限公司,江苏无锡214035
  • 折叠

摘要

关键词

破坏性键合拉力/测量系统分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

廖小平..破坏性键合拉力试验的测量系统分析[J].电子与封装,2020,20(9):1-5,5.

电子与封装

1681-1070

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