电子与封装2020，Vol.20Issue(9)：18-21,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0914
基于探针连接器的弹性测试技术研究
Research on Elastic Testing Technology Based on Probe Connector
吕英飞 1陈忠睿 1陈涛 1笪余生 1廖翱 1肖晖1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第二十九研究所,成都610036
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吕英飞,陈忠睿,陈涛,笪余生,廖翱,肖晖..基于探针连接器的弹性测试技术研究[J].电子与封装,2020,20(9):18-21,4.
