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掩模干法蚀刻参数的优化研究

华卫群 刘维维

电子与封装2020,Vol.20Issue(10):62-65,4.
电子与封装2020,Vol.20Issue(10):62-65,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1013

掩模干法蚀刻参数的优化研究

Optimization of Mask Dry Etching Parameters

华卫群 1刘维维1

作者信息

  • 1. 无锡中微掩模电子有限公司,江苏无锡214035
  • 折叠

摘要

关键词

干法蚀刻/掩模/蚀刻参数/优化

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

华卫群,刘维维..掩模干法蚀刻参数的优化研究[J].电子与封装,2020,20(10):62-65,4.

电子与封装

1681-1070

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