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高压MnO2钽电容器的漏电流稳定性研究

田东斌胡鑫利熊远根刘兵

电子元件与材料2020，Vol.39Issue(12)：22-26,5.

电子元件与材料2020，Vol.39Issue(12)：22-26,5.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2020.0388

Stability of leakage current of high voltage MnO2 tantalum capacitors

田东斌 ¹胡鑫利 ¹熊远根 ¹刘兵¹

作者信息

高压/阻挡层/MnO2钽电容器/漏电流/稳定性

信息技术与安全科学

田东斌,胡鑫利,熊远根,刘兵..高压MnO2钽电容器的漏电流稳定性研究[J].电子元件与材料,2020,39(12):22-26,5.

贵州省科技计划项目(黔科合平台人才〔2019〕5649) （黔科合平台人才〔2019〕5649）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1001-2028

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