电子与封装2021，Vol.21Issue(1)：11-19,9.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0102
FPGA潜在缺陷测试技术综述
Literature Review of FPGA Potential Defect Testing Technology
黄姣英 1李鹏 1高成1
作者信息
- 1. 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京100191
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摘要
关键词
逻辑资源/互联线资源/端口资源/内嵌核/测试方法分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
黄姣英,李鹏,高成..FPGA潜在缺陷测试技术综述[J].电子与封装,2021,21(1):11-19,9.
