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基于静态随机存取存储器型FPGA的测试技术发展

张颖 毛志明 陈鑫

电子与封装2021,Vol.21Issue(1):33-43,11.
电子与封装2021,Vol.21Issue(1):33-43,11.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0107

基于静态随机存取存储器型FPGA的测试技术发展

Progress of Static Random Access Memory-based FPGA Testing

张颖 1毛志明 1陈鑫1

作者信息

  • 1. 南京航空航天大学电子信息工程学院,南京211100
  • 折叠

摘要

关键词

FPGA测试/SRAM型FPGA/内建自测试/应用相关测试

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张颖,毛志明,陈鑫..基于静态随机存取存储器型FPGA的测试技术发展[J].电子与封装,2021,21(1):33-43,11.

基金项目

国家自然科学基金(61701228,61106029) (61701228,61106029)

模拟集成电路重点实验室基金(61428020304) (61428020304)

航空科学基金(20180852005) (20180852005)

电子与封装

1681-1070

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