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基于三参数威布尔函数法的光电器件寿命快速评估模型及其应用

张建平 张蓓

电子元件与材料2021,Vol.40Issue(2):137-143,7.
电子元件与材料2021,Vol.40Issue(2):137-143,7.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2021.1106

基于三参数威布尔函数法的光电器件寿命快速评估模型及其应用

Rapid life assessment model of optoelectronic devices based on three-parameter Weibull function method and its applications

张建平 1张蓓2

作者信息

  • 1. 上海电力大学 能源与机械工程学院,上海 200090
  • 2. 上海理工大学 机械工程学院,上海 200093
  • 折叠

摘要

关键词

光电器件/加速退化试验/寿命评估模型/亮度衰减/三参数威布尔函数

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张建平,张蓓..基于三参数威布尔函数法的光电器件寿命快速评估模型及其应用[J].电子元件与材料,2021,40(2):137-143,7.

基金项目

国家自然科学基金 (11572187) (11572187)

上海市科学技术委员会项目 (18DZ1202105,18DZ1202302) (18DZ1202105,18DZ1202302)

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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