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高密度封装中互连结构差分串扰建模与分析

宣慧 于政 吴华 丁万春 高国华

电子与封装2021,Vol.21Issue(2):69-72,4.
电子与封装2021,Vol.21Issue(2):69-72,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0207

高密度封装中互连结构差分串扰建模与分析

Modeling and Analysis of Differential Crosstalk of Interconnect Structure in High Density Packaging

宣慧 1于政 1吴华 1丁万春 1高国华1

作者信息

  • 1. 通富微电子股份有限公司,江苏南通226000
  • 折叠

摘要

关键词

高密度封装/互连结构/差分串扰

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

宣慧,于政,吴华,丁万春,高国华..高密度封装中互连结构差分串扰建模与分析[J].电子与封装,2021,21(2):69-72,4.

电子与封装

1681-1070

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