电子与封装2021，Vol.21Issue(3)：32-35,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0314
GaAs多功能MMIC在片测试系统设计
Design of GaAs Multi-Function MMIC On-Wafer Test System
摘要
关键词
多功能MMIC/PXI/逻辑电路/模块化仪器分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陈金远,焦芳,王逸铭,林罡..GaAs多功能MMIC在片测试系统设计[J].电子与封装,2021,21(3):32-35,4.
