扇出型晶圆级封装中圆片翘曲研究OA
Research of Wafer Warpage in Wafer-Level Fan-Out Packaging
在扇出型晶圆级封装工艺中,由于芯片材料与塑封料之间的热膨胀系数差异,晶圆塑封过程中必然会形成一定的翘曲.如何准确预测晶圆的翘曲并对翘曲进行控制是扇出型晶圆级封装技术面临的挑战之一.在讨论圆片翘曲问题时引入双层圆形板弯曲理论与复合材料等效方法,提出一套扇出型晶圆级封装圆片翘曲理论模型,并通过有限元仿真与试验测试验证了该翘曲理论模型的计算精度.同时给出该理论模型在实际工程中的应用,对扇出型晶圆级封装产品设计与翘曲预测具有指导意义.
张振越;夏鹏程;王成迁;蒋玉齐
中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035无锡中微高科电子有限公司,江苏无锡214035
信息技术与安全科学
扇出型晶圆级封装翘曲板壳理论等效模型有限元仿真
《电子与封装》 2021 (4)
23-27,5
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