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集成电路极性测试“微整机”研究与应用

张亚军 陆坚

电子与封装2021,Vol.21Issue(4):42-45,4.
电子与封装2021,Vol.21Issue(4):42-45,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0413

集成电路极性测试“微整机”研究与应用

Research and Application of "Micro Tester" for IC Polarity Test

张亚军 1陆坚1

作者信息

  • 1. 中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214072
  • 折叠

摘要

关键词

极性测试/开短路测试/微整机

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张亚军,陆坚..集成电路极性测试“微整机”研究与应用[J].电子与封装,2021,21(4):42-45,4.

电子与封装

1681-1070

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