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MRAM空间粒子辐射效应关键技术研究

杨茂森 周昕杰 陈瑶

电子与封装2021,Vol.21Issue(4):58-66,9.
电子与封装2021,Vol.21Issue(4):58-66,9.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0411

MRAM空间粒子辐射效应关键技术研究

Study on the Key Technologies of Space Particles Radiation Effects of MRAM

杨茂森 1周昕杰 1陈瑶1

作者信息

  • 1. 中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214072
  • 折叠

摘要

关键词

磁性随机存储器/辐射效应/电学表征/器件模型/电路仿真

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨茂森,周昕杰,陈瑶..MRAM空间粒子辐射效应关键技术研究[J].电子与封装,2021,21(4):58-66,9.

电子与封装

1681-1070

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