电子与封装2021，Vol.21Issue(4)：67-70,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0412
一种高压模拟开关漏电失效解决方法
Leakage Failure Analysis Based on High Voltage Analog Switch
黄立朝 1阎燕山 2程绪林 1张如州1
作者信息
- 1. 中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214072
- 2. 中国航空无线电电子研究所,上海201100
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摘要
关键词
高压开关/漏电失效/系统结构分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
黄立朝,阎燕山,程绪林,张如州..一种高压模拟开关漏电失效解决方法[J].电子与封装,2021,21(4):67-70,4.
