电子与封装2021，Vol.21Issue(5)：25-29,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0508
LDO类IC多工位测试方法探索
Exploration of Multi-Site Test Method for LDO IC
王金萍1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡 214072
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摘要
关键词
芯片测试/低压差线性稳压器/多工位测试分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王金萍..LDO类IC多工位测试方法探索[J].电子与封装,2021,21(5):25-29,5.
