电子与封装2021，Vol.21Issue(6)：21-25,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0607
集成电路测试中测试Map的"重生"技术
"Rebirth" Technology of Test Map in Integrated Circuit Test
张亚军 1陆坚1
作者信息
- 1. 中科芯集成电路有限公司,江苏无锡 214072
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摘要
关键词
晶圆测试/测试Map/重生分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
张亚军,陆坚..集成电路测试中测试Map的"重生"技术[J].电子与封装,2021,21(6):21-25,5.
